X荧光测厚光谱仪PCB抄板及样机制作

　　该设备是深圳市龙芯世纪科技有限公司PCB抄板工作室运用反向研发技术研发的专门用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

　　技术参数
　　元素分析范围从钠（Na）到铀（U）。
　　一次可同时分析最多24个元素。
　　分析检出限可达1ppm。
　　分析含量一般为1ppm到99.9％。
　　任意多个可选择的分析和识别模型。
　　相互独立的基体效应校正模型。
　　多变量非线性回收程序。
　　多次测量重复性可达0.1％。
　　长期工作稳定性为0.1％。
　　温度适应范围为15℃至30℃。
　　电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
　　主要特点
　　1、上照式
　　2、测试组件可升降
　　3、高精度移动平台
　　4、小准直器
　　5、高分辨率探头
　　6、可视化操作
　　7、自动定位高度
　　8、自动寻找光斑
　　9、鼠标定位测试点
　　10、良好的射线屏蔽
　　11、超大样品腔设计
　　12、测试口安全防护
　　深圳市龙芯世纪科技有限公司PCB抄板工作室自成立以来一直致力于PCB抄板，芯片解密，电路板克隆，样机制作及批量代工等服务，有意者请来电咨询及洽谈，我们将竭诚为您服务！