光学椭偏仪PCB抄板及样机克隆案例实例

　　这款设备是世界级高精度光谱椭偏仪，深圳市龙芯世纪科技有限公司PCB抄板工作室已完全破解、掌握了该设备的全套完整技术资料，并且制作出的样机较原机有过之而无不及。该设备可以精确测量折射指数、消光系数（n & K)，膜厚等，广泛适用于半导体、电介质、聚合物、金属等材料，单层薄膜和多层膜。

　　根据客户需求，可提供不同型号：
　　变角度单波长椭偏仪（632.8nm）；
　　变角度多波长椭偏仪（532, 632.8, 1064nm, …）；
　　变角度光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；
　　全自动光谱椭偏仪（深紫外、紫外-可见-近红外光谱190-2300nm）；
　　红外光谱椭偏仪等；
　　技术参数
　　膜厚范围：0-30000nm
　　折射指数：± 0.0001
　　厚度准确度：± 0.01nm
　　入射角度：20 - 90°
　　波长范围：250-1100nm（深紫外、近红外、红外可选）
　　Psi=±0.01°，Delta=±0.02°
　　主要特点
　　高精度测量；
　　变角度功能；
　　全光谱测量；
　　深圳市龙芯世纪科技有限公司PCB抄板工作室长期承接一切电子产品的抄板克隆及二次开发业务，精湛的技术和丰富的经验让我们有信心对任何电子产品一次性百分百成功仿制，欢迎有意者来电咨询及洽谈！