电池落球冲击试验机PCB抄板及样机仿制技术分析

　　深圳市龙芯世纪科技有限公司专注于PCB抄板及IC芯片解密等反向技术研究领域近二十年，以专业的技术研究能力在业界着称，现已成功破解了数万件设备的技术密码并实现了二次开发，现已投入第一线使用的设备性能良好，仿真度高，受到了客户的普遍好评。电池落球冲击试验机以生产难度大着称，我公司刚刚对其进行破解成功，以下是其基本的参数介绍：

　　名 称：电池落球冲击试验机
　　型 号：BE-5066
　　符合标准：1. SJ/T11169-1998或UL1642-2007
　　2. SJ/T11170-1998或UL2054
　　3. MH/T1020-2007或UN38.3、GB/T18287-2000
　　4. GB/T18287-200X
　　5. YD1268-2003
　　6. QB/T2502-2000
　　7. SJ/TXXXX-200X
　　8. IEC62281-2004
　　规格参数：
　　1、落球重量：9.1kg（可以定做为10KG）
　　2、落下高度：610-25mm（可以定做至1米）
　　3、横    杠：15.8mm
　　4、内箱材质：SUS#304不锈钢板
　　5、外箱材质：冷板烤
　　6、填充材质：玻璃棉
　　7、迫    紧：硅胶发泡迫紧1条
　　8、排风口：位于箱体背面150mm
　　9、箱    门：单门，双层门，不开观察窗，冷拉手门锁
　　10、    上下冲击面：钢板
　　11、    电   源：1∮，AC220V，ф5A
　　12、    箱体尺寸：约150×90×90cm
　　深圳市龙芯世纪科技有限公司不仅可为用户提供此系列产品的抄板仿制与二次开发，并可提供诸多设计参考、系统级解决方案与样机调试、批量生产等垂直化服务，帮助客户实现其产品最大性价比。同时，我们会随着市场的需求变化以及技术的进步对其进行后续功能的升级和扩展，并可根据您的具体需求为您提供定制化服务。现诚挚对外转让此相关案例的全套技术资料，详情请来电来访咨询、洽谈!