超纳米压痕仪PCB抄板及反向

　　该超纳米压痕仪是深圳市龙芯世纪科技有限公司PCB抄板工作室在反向技术研发领域的一个典型性成功案例，仿制出的样机较原机有过之无不及，同时可根据客户的个性化需求做相应的设计及功能参数修改。

　　技术参数
　　最小有效加载载荷： ?25uN
　　最大有效加载载荷 ?50mN（或100mN, 出厂前设定）
　　有效载荷分辨率 ?1nN
　　最小接触力 ?100nN
　　最大压痕深度 ?100um
　　位移分辨率 ?0.0003nm
　　位移信号噪声水平 ?0.03nm
　　位移信号稳定水平（或热漂移） 0.008nm/sec
　　加载模式 高精度压电驱动加载
　　位移测量 三个电容位移传感器
　　符合ISO 14577-1，2，3国际标准
　　加载模式：
　　线性加载，连续加载卸载，二次项加载，恒应变速率加载，位移控制加载
　　正弦加载（DMA模式）：
　　能够通过一次压痕获得接触刚度、硬度和弹性模量随压痕深度的连续函数分布；
　　能够测量材料的储存模量、损耗模量和阻尼
　　能够在压入过程中通过反馈系统保持恒定的简谐位移振幅。
　　简谐力频率范围: 1Hz to 200Hz
　　XY 工作台： 120 x 20 mm ，245 x 120 mm (OPX+)
　　XY 工作台位移分辨率 ：0.25 μm ，0.10 μm (选件)
　　光学显微镜放大倍率： 200x, 4000x
　　光学显微镜摄像镜头： 彩色 768 x 582*
　　主要特点特点
　　主动参比测量设计
　　超高热稳定性
　　深度与载荷信号的电容传感器测量
　　双压电加载装置（更加可靠的设计）
　　双载荷传感器（闭环力反馈系统）
　　符合国际标准ISO 和 ASTM
　　集成自动光学测量系统
　　带有反馈系统的载荷加载装置
　　仪器操作系统软件包
　　可扩展选项
　　真空或湿度环境控制
　　原子力显微镜
　　高分辨率工作台 (精度0.25微米)
　　高分辨率CCD光学显微镜
　　环境保护罩
　　深圳市龙芯世纪科技有限公司PCB抄板工作室长期从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制等反向技术研发，是目前国内最大最具权威性的专业从事反向技术研发的商业机构，欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈！